關鍵詞：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀；美析儀器：ICP-6800

等離子體發(fā)射光譜分析法是光譜分析技術中，以等離子體炬作為激發(fā)光源的一種發(fā)射光譜分析技術。其中以電感耦合等離子體（inductively coupled plasma，簡稱為ICP）作為激發(fā)光源的發(fā)射光譜分析方法（簡稱為ICP-OES），是光譜分析中研究為深入和應用為廣泛、有效的分析技術之一。

在此，美析儀器列出了電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）的常見問題，并給出詳細解答，讓大家對電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）有更深的了解。

問答一：

Q:ICP-OES的分析原理是什么？

A: 電感耦合等離子體焰矩溫度可達6000~8000K，當將試樣由進樣器引入霧化器，并被氬載氣帶入焰矩時，則試樣中組分被原子化、電離、激發(fā)，以光的形式發(fā)射出能量。不同元素的原子在激發(fā)或電離時，發(fā)射不同波長的特征光譜，故根據(jù)特征光的波長可進行定性分析；元素的含量不同時，發(fā)射特征光的強弱也不同，據(jù)此可進行定量分析，其定量關系可用下式表示：

I=aC^b

式中：I—發(fā)射特征譜線的強度；

C—被測元素的濃度；

a—與試樣組成、形態(tài)及測定條件等有關的系數(shù)；

b—自吸系數(shù)，b≤1

問答二：

Q:ICP-OES的應用領域是？

A:ICP-OES目前主要應用包括以下幾方面：

1、材料類檢測：主要包括傳統(tǒng)金屬材料以及新型材料的成分檢測。

2、環(huán)境與安全類：主要包括食品、食品容器以及其包裝材料的重金屬檢測；玩具以及兒童用品及其包裝材料中的有害重金屬檢測。（銻、砷、鋇、鉻、鎘、鉛、汞等）；電子電器材料有害物質檢測。（Pb、Cd、Hg等）；化妝品、洗滌劑及其包裝材料中的有害成分：砷、汞、鉛等。

3、醫(yī)藥類：一般應用于藥品以及一些保健品的有害成分以及營養(yǎng)成分的檢測

4、地質、礦產、農業(yè)行業(yè)的檢測：主要應用于分析地質、礦產、土壤等材料中的元素檢測以及研究。

5、任何高純物質的檢測：主要包括氯堿化工的高純燒堿及其原材料的微量元素分析以及高純藥品中間體。

問答三：

Q:ICP-OES有哪些元素是不可以測試的？

A:ICP-OES除了H、He、C、N、O、F、S、Ne、Cl、Ar、Kr、Xe、Rn、Br、I、At等元素不能測試外，其他元素都可以測試。

問答四：

Q:ICP-OES與XRF的差異在哪里？

A：ICP-OES屬于定量分析儀器，測試結果準確性高，其檢出限較低，可以達到1ppm；而XRF屬于半定量儀器，測試結果準確性較差，其檢查限較高，一般含量需要0.1%以上的才能檢測的出。

問答五：

Q:什么叫儀器檢出限？什么叫方法檢出限？

A: 儀器檢出限是指在規(guī)定的儀器條件下，當儀器處于穩(wěn)定狀態(tài)時，儀器本身存在著的噪音引起測量讀數(shù)的漂移和波動。儀器檢出限的水平可對同類儀器之間的信噪比、檢測靈敏度、信號與噪音相區(qū)別的界限及分析方法進行測量所能達到的低限度等方面提供依據(jù)。儀器的檢出限的物理含義為:在一定的置信范圍內能與儀器噪音相區(qū)別的小檢測信號對應的待測物質的量。通過配制一定濃度的稀溶液12份進行測量，可用下式計算:

方法的檢出限是指一個給定的分析方法在特定條件下能以合理的置信水平檢出被測物的小濃度，它是表征分析方法的主要的參數(shù)之一。分析方法隨機誤差的大小不但與儀器噪聲有關，而且決定了方法全過程所帶來的誤差總和，與樣品性質、預處理過程都有關系。為了能反映分析方法在整個分析處理過程的誤差，可采用已知結果的標準物質或樣品按照分析步驟進行測量，通過分析12份已知結果的實際樣品來計算方法的檢出限，計算公式如下:

問答六：

Q：ICP-OES可以直接測試化合物的含量嗎？

A：不可以，ICP-OES只能測試單個元素的含量，無法直接測試化合物的含量。如果需要測試某個化合物的含量，必須先測試化合物中某個金屬離子的含量，再通過化合物的分子式將其轉換為該化合物的含量。

問答七：

Q：ICP-OES測試對樣品的形狀有要求嗎？

A：ICP-OES測試對樣品的形狀無特殊要求，只需要該樣品能用各種酸將其從固態(tài)轉換為液體即可。

問答八：

Q:ICP-OES測試對樣品量有什么要求？

A:ICP-OES測試一般是根據(jù)樣品中的成分含量的多少而決定稱樣量的，含量越低，稱樣量越大。不同的樣品類型和測試標準都會有不同的要求。一般情況下保證10g的樣品量的情況下，基本上能滿足測試要求。

關鍵詞：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀；美析儀器：ICP-6800